语音动态电子腭位仪

WinEPG动态电子腭位仪，由英国 Articulate Instruments有限公司（Articulate Instruments Ltd.）制造，能够在连续语流中实时记录舌和硬腭接触过程中舌的空间位置和舌腭接触部位的变化。EPG主要用于腭裂、耳聋、运动神经障碍等言语疾病的诊治和言语治疗。此外，EPG也用于言语产生机制的研究，是研究舌协同发音（LingualCoarticulation）必备的研究手段。

WinEPG系统的构成和工作原理:

WinEPG是基于Windows系统环境的腭位信号采集和分析的平台。WinEPG的硬件包括串行通讯接口（Serial Port Interface），腭位扫描仪（EPG3 Scanner），多路复用器（Multiplexer），电极手柄（Chrome Hangrip）和假腭等。

一个电极，上面有一定的电压，一旦假腭的某个电极产生接触，电流形成回路，信号就传送到多路复用器，再由后者对信号缓存放大后发送到腭位扫描仪进行处理。多路复用器对电极扫描的时候，一次扫描4个电极，扫描62个电极需要3.2毫秒。一般采用100Hz或者200Hz，因为这个采样频率足以记录舌腭接触的动态过程。


Articulate Assistant程序：

串行通讯接口通过串口USB线（Serial-to-USB）把捕获的信号传送到Articulate Assistan程序，后者可以实时监控和显示录音过程。该程序可以设置录制每条语料的时间。时间一到，软件就自动跳转下一条语料，并把录制好的EPG信号和语音信号在指定的文件夹里存入两个同名文件，EPG信号的扩展名为*.EPG，语音信号的扩展名为*.wav。该程序还可以回访已录制好的文件，并能够计算一些腭位参数。

ArtiscAsst程序界面

假腭的制作：

首先要获取发音人硬腭和上齿的模型，然后按照发音人的生理模型用丙烯酸基材制作假腭，最后需要在假腭表面安放电极。

牙模和电子假腭

假腭功能区的分布：

根据发音人硬腭生理特征以及发音部位的特点把假腭分为三个功能区域（如下图所示），前三行定义为齿龈区，中间三行分为硬腭区，后两行分为软腭区。腭位参数包括三类：首先是各功能区域的接触面积，包括齿龈区面积（AC）,硬腭区面积（PC）和软腭区面积（VC）,计算方法为各功能区域接触电极数目和该功能区域电极总数的比率（%）。第二类参数为接触重心（COG），主要用于衡量电极分布特点。第三类参数为齿龈区收紧点最窄宽度（MinW）,主要衡量擦音成阻的特点，定义为第一行电极中没有接触的电极数。腭位参数每10ms 计算一次，之后进行时间归一化，选取20个时间点。

假腭功能分区显示图